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SJ200系列高度计可广泛适用于产品计量、多点检测、测量设备监测和位置测量等众多领域，对长度、间距、厚度、高度或直线位移进行快速、准确的测量。

一、 结构原理

本仪器包括高精度光栅装置、密珠导轨的测量杆装置、高性能的高速采样等。

SJ200系列高度计采用高精度光栅，即玻璃基体的增量式光栅尺作为测量基准，所以支持大量程的测量。测量基准对震动和冲击不敏感，并具有确定的稳定特性。

增量光栅尺的扫描方法为光电扫描，因此无机械接触也无磨损。电子设备对输出信号进行细分至纳米级的极小测量步距，从而确保一个信号周期内微小位置误差。

二、 性能特点

u 测量精度高（高精度进口光栅、高精度导轨）；

u 可靠性好（经过10万次重复性实验）；

u 检测速度快：快速检测、示值稳定；

u 校准方便；

u 采用密珠导轨的测量杆能够承受很高的径向力且运动摩擦力极小；

u 应用广泛，自动检测设备、手动测量或定位设备-无论是长度、间距、高度、厚度或直线位移都可以快速、准确和可靠的测量。